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電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A 貸出可

平坂 雅男／共編 -- アグネ承風社 -- 2002.9 -- 501.55

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 状態
９書庫 /501.5/デ/ 8132270504 一般 館内有

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書名 電子顕微鏡研究者のためのFIB・イオンミリング技法Q&A
タイトル関連情報 ナノテクノロジーの推進役
著者名 平坂 雅男 ／共編, 朝倉 健太郎 ／共編  
出版者 アグネ承風社
出版年 2002.9
ページ数 208p
大きさ 26cm
一般件名 非破壊検査 , 電子顕微鏡 , イオンビーム
NDC分類(9版) 501.55
内容紹介 FIBやイオンミリング技法の情報を渇望する声に応えて、実際に電子顕微鏡に携わる研究者や技術者から疑問点を抽出し、Q&A形式で技術情報をまとめたもの。基礎から応用まで網羅し、現場で役立つ参考書。
ISBN 4-900508-74-8

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