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表面・界面の分析と評価
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平木 昭夫/共著 -- オーム社 -- 1994.9 -- 428.8
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所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
状態
7書庫
/428.8/ヒ/
8121218990
一般
館内有
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資料詳細
書名
表面・界面の分析と評価
シリーズ名
応用物理学シリーズ
著者名
平木 昭夫
/共著,
成沢 忠
/共著
出版者
オーム社
出版年
1994.9
ページ数
141p
大きさ
22cm
一般件名
半導体
NDC分類(9版)
428.8
内容紹介
半導体技術の核となる半導体-金属界面での反応の分析・評価を軸に、著者の経験をふまえつつ新たな研究開発に向けた様々な示唆に富む内容となっている。
ISBN
4-274-12976-4
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