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LSI故障解析技術 貸出可

二川 清／著 -- 日科技連出版社 -- 2011.9 -- 549.7

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 状態
一般１階 /549.7/ﾆ/ 8134543100 一般 館内有

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書名 LSI故障解析技術
著者名 二川 清 ／著  
出版者 日科技連出版社
出版年 2011.9
ページ数 10,194p
大きさ 21cm
一般件名 集積回路
NDC分類(9版) 549.7
版表示 新版
内容紹介 LSIの故障解析技術に焦点を絞り、現在どのような技術が利用され、研究開発されているかについて、微細化、マージナル不良、タイミング不良などに対応するものに重点を置いて解説する。2007年以降の技術の変化に対応。
ISBN 4-8171-9414-5
ISBN13桁 978-4-8171-9414-5

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