岐阜県図書館
トップメニュー
資料検索
資料紹介
本・資料を探す
Myライブラリ
ヘルプ
トップメニュー
>
本サイトにはJavaScriptの利用を前提とした機能がございます。
お客様の環境では一部の機能がご利用いただけない可能性がございますので、ご了承ください。
資料詳細
一度に予約できる点数は5点までです
詳細検索
ジャンル検索
1 件中、 1 件目
はじめてのデバイス評価技術
貸出可
二川 清/著 -- 森北出版 -- 2012.9 -- 549.8
新着図書通知
予約かごへ
本棚へ
所蔵
所蔵は
1
件です。現在の予約件数は
0
件です。
所蔵場所
請求記号
資料コード
資料区分
状態
一般1階
/549.8/ニ/
8134298980
一般
館内有
ページの先頭へ
資料詳細
書名
はじめてのデバイス評価技術
著者名
二川 清
/著
出版者
森北出版
出版年
2012.9
ページ数
11,179p
大きさ
22cm
一般件名
半導体
NDC分類(9版)
549.8
版表示
第2版
著者紹介
大阪大学大学院基礎工学研究科修士課程修了。日本電気株式会社(NEC)勤務を経て、金沢工業大学大学院客員教授、大阪大学大学院特任教授。
内容紹介
半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路(IC)を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。
ISBN
4-627-77442-1
ISBN13桁
978-4-627-77442-1
ページの先頭へ